Pt불순물 ICP분석시

이름 : AnApex | 작성일 : 2008.10.26 17:55 | 조회수 : 19902

안녕하세요. 파장에 따른 간섭일 수 있으나, 간섭의 영향이 적은 Pt의 분석파장을 바꿔서 측정해보시기 바랍니다. 왕수로 사용하였을 때 각 파장에서 관찰되는 interference 원소를 적어보았습니다. 그리고 blank만을 측정하여 왕수 blank안에 Cr의 존재유무를 확인하시고 blank 보정을 해주셔야 합니다. 고순도의 산을 사용하셨더라도 용기에 저장 후 용기에 존재하는 금속 성분들이 용출되어 나올 수 있으므로 반드시 확인이 필요합니다. Pt ICP-OES 214.423 nm - W, As, Ir, Cd 203.646 nm - Co, Hf Cr ICP-OES 205.552 nm - Os 284.325 nm 276.654 nm - Cu, Ta, V 즐거운 하루 되세요. ---------------원본글입니다--------------- >>안녕하세요 >> >> 궁금한게 있어서 글올립니다. >> >> Pt를 왕수에 녹여 ICP-OES에서 불순물을 체크하는데요 >> >> Cr이 6000ppm가량이 나오네요 두번 해봤는데 모두 그렇게 나오구요 >> >> Cr분석 파장은 267.716nm에서 하였습니다. >> >> Pt265.945nm에서 오는 간섭일까요? ICP참 어렵습니다 ^^
IP : 218.54.49.***

이름   비밀번호

번호	파일	제목	이름	작성일	조회수
735		적정 중 질문	master	2008.11.27	21,044
734		PVA에 대해 자료 좀 부탁드립니다,	고분자	2008.11.18	20,871
733		PVA에 대해 자료 좀 부탁드립니다,	AnApex	2008.11.19	21,341
732		적정 중 질문입니다.	최하나	2008.11.14	21,973
731		적정 중 질문입니다.	Anapex	2008.11.17	22,205
730		분석Q&A 런타임 오류 발생 문의	오호동	2008.11.08	20,728
729		분석Q&A 런타임 오류 발생 문의	AnApex	2008.11.10	20,518
728		C, O 분석도 가능한가요???	곤이	2008.11.06	19,946
727		C, O 분석도 가능한가요???	AnApex	2008.11.11	19,837
726		C, O 분석도 가능한가요???	곤이	2008.11.13	20,347
725		C, O 분석도 가능한가요???	AnApex	2008.11.13	21,856
724		실리콘 내의 불순물 분석(공인된 분석방법?)	곤이	2008.11.03	21,963
723		실리콘 내의 불순물 분석(공인된 분석방법?)	AnApex	2008.11.11	22,897
722		세척용액의 경우...	이상원	2008.11.03	21,962
721		세척용액의 경우...	AnApex	2008.11.11	21,734
720		ICP-MS 분석을 위한 전처리	정은선	2008.10.25	19,639
719		ICP-MS 분석을 위한 전처리	AnApex	2008.10.28	19,858
718		Pt불순물 ICP분석시	홍성원	2008.10.22	19,970
		Pt불순물 ICP분석시	AnApex	2008.10.26	19,903
716		산과 반응된 실리콘 전처리	이상원	2008.10.21	19,057