실리콘 내 P 분석

이름 : 곤이 | 작성일 : 2008.07.28 10:07 | 조회수 : 19096

몰리브덴청 흡광도법을 이용하면 실리콘 물질내의 1~10ppm까지도 측정이 가능한가요?ㅡ _ ㅡ?? 그리고 저 방법은 ICP 에서 사용하는건지..아니면 다른 장비에서 사용하는건지 궁금합니다. 그리고 이 게시판 운영하시는 아나펙스 운영자 분께서는 왜 답변이 없으신가요..;; 답변 기다리겠습니다.. ---------------원본글입니다--------------- >>P 분석은 ICP 나 AAS로는 감도가 불완하여 분석을 우리나라 분석 하는 분이나 분석한고 있는 실정 입니다. >> 국제적으로는 급하지 않는한 ICP 나 AAS 하지않고 있습니다. >> 몰리브덴청 흡광광도법으로 하시기 바랍니다. >> 파장 825 NM 발색단을 이용하여하시는방법이 제일 좋다고 생각 합니다. >> >> >> >> ---------------원본글입니다--------------- >> >> >>간단히 질문 드리겠습니다. >> >> >> >> ICP 분석과정에서 P 분석중 213 파장의 경우 실리콘 영향을 받아 >> >> 분석이 불가한 것으로 알고 있습니다 >> >> 177파장은 감도가 떨어지고 파장이 불안정 하여 정확한 분석이 >> >> 힘든것으로 알고 있는데요 >> >> >> >> phosphorous 경우 분석을 어떻게 해야 하나요?ㅡ _ ㅡ? >> >> 답변 주시면 감사하겠습니다.. >> >> >> >> 즐거운 하루 되시고..빗길 운전 조심하세요~
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